logo
8 неделя науки СВАО - тезисы с содержанием

Технология изготовления кристаллов полупроводниковых интегральных микросхем

Ткачева А.С., Курнявко Ю.В., Тарчигина Н.Ф.

МГОУ имени В.С. Черномырдина

Современный этап развития радиоэлектроники характеризуется широким применением интегральных микросхем (ИМС) во всех радиотехнических системах и аппаратуре. Это связано со значительным усложнением требований и задач, решаемых радиоэлектронной аппаратурой, что привело к росту числа элементов в ней. За каждое десятилетие число элементов в аппаратуре увеличивается в 5-20 раз. Разрабатываемые сейчас сложные комплексы аппаратуры и системы содержат миллионы и десятки миллионов элементов. В этих условиях исключительно важное значение приобретают проблемы повышения надежности аппаратуры и ее элементов, микроминиатюризации электро-радиокомпонентов и комплексной миниатюризации аппаратуры. Все эти проблемы успешно решает микроэлектроника.

Интегральная и функциональная микроэлектроника являются фундаментальной базой развития всех современных систем радиоэлектронной аппаратуры. Они позволяют создавать новый вид аппаратуры - интегральные радиоэлектронные устройства.

Микроэлектроника - одно из магистральных направлений в радиоэлектронике, и уровень ее развития в значительной степени определяет уровень научно-технического прогресса страны.

Применяют два основных метода изготовления ИМС - полупроводниковый и пленочный.

Первый метод заключается в локальной обработке микроучастков полупроводникового кристалла и придании им свойств, присущих функциям отдельных элементов и их соединений (полупроводниковые интегральные микросхемы).

Второй метод основан на использовании послойного нанесения тонких пленок различных материалов на общее основание (подложку) при одновременном формировании на них схемных элементов и их соединений (пленочные интегральные микросхемы).

В обоих случаях важное значение имеет качество обработки поверхности полупроводниковых пластин и подложек .

Приведу пример типового процесса обработки пластин кремния перед термическим окислением, который включает следующие операции:

  1. обезжиривание в горячем (75-80°С) перекисно-аммиачном растворе;

  2. промывание в проточной деионизованной воде (удаление продуктов реакции предыдущей обработки);

  3. обработка в горячей (90-100°С) концентрированной азотной кислоте (удаление ионов металлов);

  4. промывание в проточной деионизованной воде (удаление остатков кислот);

  5. гидродинамическая обработка пластин бельичими кистями в струе деионизованной воды;

  6. сушка пластин с помощью центрифуги в струе очищенного сухого воздуха;

  7. травление в растворе фтористоводородной кислоты (снятие поверхностного слоя и удаление загрязнений).